超声波扫描 C-SAM 分析-成都检测中心

    超声波扫描 C-SAM 分析-成都检测中心

    更新时间:2020-08-06   浏览数:369
    所属行业:商务服务 咨询服务
    发货地址:四川省成都  
    产品规格:
    产品数量:1000.00件
    包装说明:
    单 价:面议
     C-SAM是利用超声波脉冲探测样品内部空隙等缺陷的仪器,主要用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。 
    
     
    扫描模式 
    
    *传输时间测量模式(A-Scan) 
    
    *表面及横向截面扫描模式(C-Scan) 
    
    *纵向截面成像模式(B-Scan) 
    
    *透射扫描(T-Scan,限15MHz/30MHz探头)